高温恒湿寿命試験システム

高温恒湿寿命試験システム

概要

恒温恒湿器内の85℃/85%の環境下において光学チップに荷電をするユニットと、環境試験の前後の光学チップの特性測定をする装置により構成されます。

特徴

チップを実装したCAN type29個をセッティングできるユニットを恒温恒湿器に設置し、荷電・制御できます。(8585ユニット)

8585ユニットを取り外すことで、環境試験前後の特性測定をする別装置にセッティングすることができます。
(ビフォーアフター測定装置)

 

導入事例

①8585ユニット計16個を恒温恒湿器内に設置。

  • 設定:ドライブ電流、EA電圧
  • モニター:LDドライブ電流、LD電圧、EA電流、温度・湿度

②ビフォーアフター測定装置

測定項目

  • LIV測定(Ith、Se、Rs、Iop/Vop、Kink )
  • OSA測定(SMSR、λp、Lp、λsm、Lsm、Band width )
  • 消光比測定

ビフォーアフター測定装置

 

項目 仕様
電源 AC100、200V
外形寸法 600×700×1400(W×D×H)突起物含まず
重量 約120kg