LD温度特性測定システム
Model name／ WLC-A4
概要
独自の導光光学系の実現により従来の低温環境下での複雑な調芯照準機構が不要となり、
－40℃～90℃の複数温度ポイント下に置かれたLD及びPD素子の発光／受光特性を高速に
て測定できるシステムです。
ハイパワーペルチェ素子により、高精度、高速昇降温環境を実現しました。
コンパクトな測定構造が、各種測定指標の安定性と再現性を最大限に確保します。
特徴
本装置は、-40℃～90℃の各種温度ポイントで、LDモジュール(TOCANφ5.6など)のL＆I，V＆I、Im＆L、PD素子のIm,Idark及び分光特性(波⾧、SMSRなど)を全自動で測定する事が出来ます。
製品仕様
| 項目 | 仕様 | |
|---|---|---|
| 測定対応素子 | 形状 | 5.6mmφCAN型(他形状別仕様) |
| 波⾧ | 0.9~1.7μm | |
| 測定項目 | LD | L(Po),Vf,Ir |
| PD | Im,Idark | |
| 特性曲線 | L&I,V&I,Im&L曲線 | |
| スペクトル解析 | 中心波⾧、ピーク波⾧、スペクトル幅、SMSRなど | |
用途・実績例
光通信用BOX型光送受信デバイスの製造プロセスに採用され、量産装置として稼働中です。