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光エレクトロニクス > LD温度評価
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LD温度評価
独自の導光光学系の実現により従来の低温環境下での複雑な調芯照準機構が不要となり、-40℃~90℃の複数温度ポイント下に置かれたLD及びPD素子の発光/受光特性を高速にて測定できるシステムとなります。ハイパワーペルチェ素子により、高精度、高速昇降温環境を実現しています。
LD温度特性測定システム
広温度範囲でのレーザーダイオード特性評価に対応したLD温度特性測定システムです。
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恒温恒湿試験システム(恒温恒湿老化試験システム)
恒温恒湿器内の85℃/85%の環境下において光学チップに荷電をするユニットと、環境試験の前後の光学チップ…
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