恒温恒湿試験システム（恒温恒湿老化試験システム）

概要

「恒温恒湿寿命試験システム」は、恒温恒湿器内での85℃／85%RHの環境下において、
光学チップに荷電を行うユニットと、環境試験の前後で光学チップの特性変化を測定する装置によって構成された恒温恒湿試験システムです。

高温多湿のストレス環境における光学チップの耐久性・信頼性評価を目的としており、
製品寿命予測、劣化メカニズム解析、品質管理において精度の高いデータを提供します。
高額で精密な光学デバイスに対し、環境ストレス下での変化を定量的に評価できるため、製品の信頼性向上や劣化メカニズム解析に大きく寄与します。

柔軟な治具設計で多様なチップに対応
本システムは、Type29仕様のBSSユニットを採用しています。
接続治具の設計自由度が高く、対象となる光学チップやモジュールに合わせて柔軟にフィッティングが可能です。

実使用環境を再現する荷電試験
恒温恒湿器内では、85℃／85%RHの厳しい環境条件下で光学チップに荷電することができ、実使用環境を模擬したストレス試験が行えます。

劣化を可視化するビフォーアフター測定
試験前後の光学特性を評価できる「ビフォーアフター測定装置」を併設。
劣化や変化を定量的に可視化できるため、信頼性評価や長期耐久性試験において高い有用性を発揮します。

①8585ユニット計16個を恒温恒湿器内に設置。

②ビフォーアフター測定装置
測定項目

光学・調芯・光制御などの分野で
✅ 環境ストレス試験の再現性に悩まれている方
✅ 高額な光学チップの耐久性を定量的に評価したい方
✅ 新規評価手法を模索している研究者・開発者の方

――その課題、当社の「恒温恒湿試験システム」が解決します。

弊社では、特注対応や既存評価系との連携についても柔軟にご相談を承っております。
ぜひ一度、お問い合わせください。
→光モジュールOEM
→カスタム

BSSユニット付き16ch恒温恒湿対応システム
- 用途：光学ドライバ素子、LD評価
- 対象：ミニLDドライバ、LD特性、温度・湿度下での信頼性評価
ピフォーアフター測定対応評価系
- 測定項目：
  - IV測定（Ith, Sen, Rs, lop, Vop, Kink）
  - OS特性（SMSR, Pp, Lp, Δλ, Lsm, Bandwidth）