LD温度特性測定システム
型名／ WLC-A4
概要
LD温度特性測定システムは、レーザーダイオード（LD）およびPD素子の温度依存特性（発光強度、波長、効率など）を、-40℃～90℃の広温度範囲で正確かつ迅速に測定するための装置です。
独自の高精度光学系と熱設計により、従来必要だった高温照射機構を不要とし、温調下での多点自動測定を高速かつ安定的に実現。
光モジュール評価・量産検査工程の効率化を支援します。
また、ハイパワーレーザーにも対応し、L-I/V-I特性、SMSR、スペクトル幅などの指標をワンパスで取得できる統合型アーキテクチャを採用しています。
特徴
LDモジュール（TO-CAN ϕ5.6, ϕ9.0など）に対応
LDパラメータ：L-Iカーブ、V-I特性、波長シフト、発光効率などを正確に取得
PDパラメータ：受光感度、I_dark、波長依存性などを詳細に評価
- -40℃〜+90℃の広温度範囲にわたり、複数の設定温度ポイントでの測定が可能
スペクトル解析（中心波長・ピーク波長・スペクトル幅）およびSMSR測定にも対応
コンパクト設計で、省スペース化とシステム統合性を両立
主な測定仕様
| 項目 | 仕様 | |
|---|---|---|
| 測定対応素子 | 形状 | 5.6mmφCAN型(他形状別仕様) |
| 波⾧ | 0.9~1.7μm | |
| 測定項目 | LD | L(Po),Vf,Ir |
| PD | Im,Idark | |
| 特性曲線 | L&I,V&I,Im&L曲線 | |
| スペクトル解析 | 中心波⾧、ピーク波⾧、スペクトル幅、SMSRなど | |
用途・実績例
光通信用BOX型送受信デバイスの製造プロセスにおける量産前評価・温度ストレス試験
新規開発中の高温/低温対応光素子評価や自動特性選別装置との組合せ
医療・産業用途向けレーザーデバイスの信頼性試験支援